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  • AP-CJ微電腦溫沖試驗箱
    AP-CJ微電腦溫沖試驗箱

    微電腦溫沖試驗箱適用于電子電器零組件、通訊組件、自動化零部件、汽車配件、化學材料、金屬、塑膠等行業(yè)、航天、國防工業(yè)、BGA、兵工業(yè)、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物對高、低溫的反復抵拉力及產品處于熱脹冷縮的物理環(huán)境產出的化學變化或物理傷害,可確認各種產品的品質,從精密的IC到重機械的組件,無一不需要它,目前此設備是工業(yè)產業(yè)共認的理想測試工具。

    更新時間:2024-11-08型號:AP-CJ訪問量:2339
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  • AP-CJ模擬環(huán)境溫度沖擊測試設備
    AP-CJ模擬環(huán)境溫度沖擊測試設備

    模擬環(huán)境溫度沖擊測試設備可在預約開機時間運轉中自動提前預冷、預熱、待機功能。結構設計為蓄熱槽、測試槽、蓄冷槽三部分,被測試物品靜止置放于測試室內,可選擇2區(qū)或3區(qū)之測試功能??瑟毩⒃O定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,執(zhí)行冷熱沖擊條件時,具有高低溫試驗機的功能。

    更新時間:2024-11-08型號:AP-CJ訪問量:2147
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  • AP-CJ冷熱沖擊箱試驗設備
    AP-CJ冷熱沖擊箱試驗設備

    冷熱沖擊箱是一種用于測試產品在溫度變化環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性的試驗設備。該設備可以模擬高溫、低溫和急速溫度變化的條件,從而評估產品在這些環(huán)境下的耐受能力。

    更新時間:2024-11-07型號:AP-CJ訪問量:2351
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  • AP-CJ溫沖試驗設備標準
    AP-CJ溫沖試驗設備標準

    溫沖試驗設備標準試驗目的是為了仿真不同電子構件,在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件,改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴格測試環(huán)境,縮短測試時間,降低測試費用,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響,產生非使用狀態(tài)的破壞試驗。

    更新時間:2024-11-07型號:AP-CJ訪問量:2445
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  • AP-CJ元器件熱沖擊
    AP-CJ元器件熱沖擊

    元器件熱沖擊用于測試電子產品,電子,電器,電子產品,電子元器件,數碼產品,手機,電腦,太陽能組件等產品及零部件在瞬間下經*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在Z短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。

    更新時間:2024-11-07型號:AP-CJ訪問量:2129
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