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電子元器件高低溫試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述:電子元器件高低溫試驗(yàn)箱用來(lái)考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化,產(chǎn)品表面產(chǎn)生高溫或低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來(lái)保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響,設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗(yàn)規(guī)定的溫度之差不大于8%,且試驗(yàn)樣品不會(huì)受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。

  • 產(chǎn)品型號(hào)AP-GD
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2024-11-07
  • 訪  問(wèn)  量1610

詳細(xì)介紹

品牌愛(ài)佩科技/A-PKJ價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)

電子元器件高低溫試驗(yàn)箱用來(lái)考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化,產(chǎn)品表面產(chǎn)生高溫或低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來(lái)保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響,設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗(yàn)規(guī)定的溫度之差不大于8%,且試驗(yàn)樣品不會(huì)受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。
電子元器件高低溫試驗(yàn)箱簡(jiǎn)易參數(shù)詳情如下:
★型號(hào)/規(guī)格:
★型 號(hào):AP-GD-80;AP-GD-100;AP-GD-150;AP-GD-225;AP-GD-408;AP-GD-800;AP-GD-1000
★試驗(yàn)機(jī)內(nèi)部尺寸(寬×高×長(zhǎng))cm  40×50×40;50×60×50;50×75×60;60×85×80;100×100×80;100×100×100;
★試驗(yàn)機(jī)外部尺寸(寬×高×長(zhǎng))cm 以實(shí)際尺寸為標(biāo)準(zhǔn),每個(gè)型號(hào)的報(bào)價(jià)方案上都會(huì)有對(duì)應(yīng)的外問(wèn)尺寸,如需提交咨詢請(qǐng)愛(ài)佩業(yè)務(wù)員。
★試驗(yàn)機(jī)內(nèi)外部材質(zhì)均采用SUS304優(yōu)質(zhì)不銹鋼:具有良好的低溫強(qiáng)度,耐蝕性、耐熱性和機(jī)械特性;沖壓、彎曲等熱加工性好,無(wú)熱處理硬化現(xiàn)象(無(wú)磁性,使用溫度-196℃~800℃)
★本試驗(yàn)機(jī)有多個(gè)溫度范圍可以選擇:0℃~-150℃;-20℃~-150℃;-40℃~-150℃;-60℃~-150℃;-70℃~-150℃
★波動(dòng)度:±0.5℃
★均勻度:±2℃
★控制器方式:微電腦PID控溫 
★試驗(yàn)機(jī)內(nèi)部擺放樣品的置物架子:標(biāo)配兩層,多層下單時(shí)注明。 
★整機(jī)使用電源:?jiǎn)蜗?20V或者三相380V,功率根據(jù)尺寸大小及溫度范圍而定。
★*的BTC平衡調(diào)溫方式,穩(wěn)定平衡的加熱能力,調(diào)節(jié)理想溫度環(huán)境,進(jìn)行高精度高穩(wěn)定的溫度控制。
★具有隨溫度的設(shè)定數(shù)值自動(dòng)選擇運(yùn)轉(zhuǎn)制冷回路的功能,操作簡(jiǎn)單,使用方便。
★測(cè)試機(jī)內(nèi)設(shè)有觀察窗,照明燈,可隨時(shí)觀察樣品在試驗(yàn)機(jī)內(nèi)的測(cè)試情況的變化。
具有較寬的溫度控制范圍,其性能指標(biāo)均達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法,試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗(yàn)及恒定溫?zé)嵩囼?yàn)。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biāo)準(zhǔn)。

 

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